A new X-ray transmission-reflection scheme for the study of deeply buried interfaces using high-energy microbeams
A new X-ray transmission-reflection scheme for the study of deeply buried interfaces using high-energy microbeams
复制标题
利用高能微束研究深埋界面的新 X 射线透射反射方案
DOI：
10.1016/s0921-4526(03)00268-0
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发表时间：
2003
影响因子：
2.8
通讯作者：
H. Dosch
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Reichert;V. Honkimäki;A. Snigirev;S. Engemann;H. Dosch
