LaO1-xFxBiCh2(Ch=S, Se)の走査トンネル顕微鏡/分光測定
LaO1-xFxBiCh2(Ch=S, Se)の走査トンネル顕微鏡/分光測定
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LaO1-xFxBiCh2 (Ch=S, Se) 的扫描隧道显微镜/光谱测量
DOI:
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发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
坂田英明
中科院分区:
文献类型:
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作者:
出村郷志;藤澤唯太;石田直樹;冨安悠人;坂井優斗;小野寺崇文;坂田英明