T.Hirai: "Characterization of Metal/Ferroelectric/Insulator/Semiconductor Structure with CeO_2 Buffer Layer" Jpn. J. Appl. Phys.34. 4163-4166 (1995)
T.Hirai: "Characterization of Metal/Ferroelectric/Insulator/Semiconductor Structure with CeO_2 Buffer Layer" Jpn. J. Appl. Phys.34. 4163-4166 (1995)
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T.Hirai：“具有 CeO_2 缓冲层的金属/铁电/绝缘体/半导体结构的表征”Jpn。
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