Fe3Si/Siショットキー障壁を介したスピン注入の電気的検出
Fe3Si/Siショットキー障壁を介したスピン注入の電気的検出
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通过 Fe3Si/Si 肖特基势垒进行自旋注入的电学检测
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮尾正信
中科院分区：
文献类型：
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作者：
安藤裕一郎;笠原健司;榎本雄志;浜屋宏平;木村崇;澤野憲太郎;宮尾正信
