The data analysis technique of the atomic force microscopy for the atomically flat silicon surface
The data analysis technique of the atomic force microscopy for the atomically flat silicon surface
复制标题
原子级平坦硅表面原子力显微镜数据分析技术
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Rihito Kuroda and Tadahiro Ohmi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masahiro Konda;Akinobu Teramoto;Tomoyuki Suwa;Rihito Kuroda and Tadahiro Ohmi
