K.Sasagawa(M.Hasegawa,M.Saka and H.Abe): "Experimental verification of prediction method for electromigration failure of polycrystalline lines"Journal of Applied Physics. (印刷中). (2000)
K.Sasagawa(M.Hasegawa,M.Saka and H.Abe): "Experimental verification of prediction method for electromigration failure of polycrystalline lines"Journal of Applied Physics. (印刷中). (2000)
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K.笹川（M.Hasekawa、M.Saka 和 H.Abe）：“多晶硅线电迁移失效预测方法的实验验证”应用物理学杂志（2000 年出版）。
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