オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の標準化とデータベース化 -SiO2薄膜表面の損傷過程-
オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の標準化とデータベース化 -SiO2薄膜表面の損傷過程-
复制标题
俄歇电子能谱分析中电子束诱发样品损伤的标准化及数据库创建-SiO2薄膜表面损伤过程-
DOI：
--
复制
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
田沼繁夫
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
永富隆清;田沼繁夫
