Direct Observation of Fluctuation in the Carrier Capture Process of Single Interface Traps in MOSFETs
Direct Observation of Fluctuation in the Carrier Capture Process of Single Interface Traps in MOSFETs
复制标题
直接观察 MOSFET 中单界面陷阱的载流子捕获过程中的波动
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Tsuchiya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hu;Y.Morimural;T.Mogami;T.Tsuchiya
