K.Sasagawa, N.Nakamura, M.Saka and H.Abe: "A New Approach to Calculate Atomic Flux Divergence by Electromigration" Application of Fracture Mechanics in Electronic Packaging,ASME. AMD-Vol.222 EEP-Vol.20. 145-152 (1997)
K.Sasagawa, N.Nakamura, M.Saka and H.Abe: "A New Approach to Calculate Atomic Flux Divergence by Electromigration" Application of Fracture Mechanics in Electronic Packaging,ASME. AMD-Vol.222 EEP-Vol.20. 145-152 (1997)
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K.Sasakawa、N.Nakamura、M.Saka 和 H.Abe：“通过电迁移计算原子通量发散的新方法”断裂力学在电子封装中的应用，ASME。
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