X射线衍射仪在薄膜结构分析中的测试方法研究
X射线衍射仪在薄膜结构分析中的测试方法研究
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DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谢清连
中科院分区：
文献类型：
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作者：
蒋艳玲;韩徐;金艳营;魏晋忠;谢善秀;谢清连
