Focused Ion Beam as a Tool for Graphene Technology: Structural Study of Processing Sequence by Electron Microscopy
Focused Ion Beam as a Tool for Graphene Technology: Structural Study of Processing Sequence by Electron Microscopy
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聚焦离子束作为石墨烯技术的工具：通过电子显微镜进行加工序列的结构研究
DOI：
10.7567/jjap.53.02bc22
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masamichi Yoshimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Gemma Rius;Amir H. Tavabi;Narcis Mestres;Osamu Eryu;Takayoshi Tanji;Masamichi Yoshimura
