橋本 紳吾、高田 清司郎，清水 健吾，Go Sian Huai，亀山 展和，大橋 史隆，吉田 弘樹，増田 淳，傍島 靖，野々村 修一
橋本 紳吾、高田 清司郎，清水 健吾，Go Sian Huai，亀山 展和，大橋 史隆，吉田 弘樹，増田 淳，傍島 靖，野々村 修一
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桥本真吾、高田征次郎、清水健吾、怀高贤惠、龟山信和、大桥文隆、吉田宏树、增田淳、草岛靖、野野村秀一
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
PID劣化多結晶シリコンモジュールの逆バイアスパルス電圧印加による高速回復手法開発
中科院分区：
文献类型：
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作者：
傍島 靖;Go Sian Hi;橋本 紳吾，清水 健吾，亀山 展和，大橋 史隆，吉田 弘樹，増田 淳，野々村 修一;大橋 史隆，古谷 大志，亀山 展和，傍島 靖，吉田 弘樹，増田 淳，野々村 修一;PID劣化多結晶シリコンモジュールの逆バイアスパルス電圧印加による高速回復手法開発
