欠陥を生成させた3C-SiCの電気化学特性
欠陥を生成させた3C-SiCの電気化学特性
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产生缺陷的3C-SiC的电化学性能
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
前田有輝，深見一弘，近藤創介，檜木達也，北田敦，邑瀬邦明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kazuhiro Fukami;Akira Koyama;Atsushi Kitada;Tetsuo Sakka;Takeshi Abe;Kuniaki Murase;松﨑健太，深見一弘，八十嶋珠仁，小山輝，Emilie Pouget，北田敦，Reiko Oda，邑瀬邦明;Alvaro Munoz-Noval，○深見一弘，小山輝，Dario Gallach，Daniel Hermida-Merino，Giuseppe Portale，北田 敦 ，邑瀬邦明，安部武志，早川慎二郎 ，作花哲夫;Kazuhiro FUkami;深見一弘;松崎健太，深見一弘，北田敦，邑瀬邦明;前田有輝，深見一弘，近藤創介，檜木達也，北田敦，邑瀬邦明
