Structure analysis of Si(111)-√21×√21-(Ag, Cs) surface by reflection high-energy positron diffraction
Structure analysis of Si(111)-√21×√21-(Ag, Cs) surface by reflection high-energy positron diffraction
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反射高能正电子衍射分析Si(111)-√21×√21-(Ag,Cs)表面结构
DOI：
10.1016/j.susc.2012.07.039
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
and A. Kawasuso
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Fukaya;I. Matsuda;R. Yukawa;and A. Kawasuso
