TaN/Hf系high-k/Siゲートスタック構造の電気特性

TaN/Hf系high-k/Siゲートスタック構造の電気特性
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TaN/Hf基高k/Si栅堆叠结构的电学特性

DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
九州大学大学院総合理工学報告 29巻(4号)
影响因子:
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通讯作者:
中島 寛
中島 寛
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
杉本 陽平;山本 圭介;梶原 誠生;末慶 雄策;中島 寛

文献摘要

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