Particle beam writing technique for micro-meter-scaled fluorescent defect engineering
Particle beam writing technique for micro-meter-scaled fluorescent defect engineering
复制标题
微米级荧光缺陷工程的粒子束写入技术
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and O. Hanaizumi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W. Kada;Y. Suda;M. Haruyama;K. Kasuya;M. Koka;N. Yamada;K. Miura;S. Onoda;H. Kraus;G. Astakhov;T. Ohshima;and O. Hanaizumi
