Analytical Transmission Electron Microscopy in the Third Dimension
Analytical Transmission Electron Microscopy in the Third Dimension
复制标题
三维分析透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2012
影响因子：
2.8
通讯作者：
Bert Freitag
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Arda Genc;Huikai Cheng;J. Winterstein;L. Pullan;Bert Freitag
2012 年 7 月 29 日至 8 月 2 日在美国亚利桑那州凤凰城举行的 2012 年显微镜和微分析会议上发表的论文的扩展摘要。
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.