Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope
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DOI：
10.1186/s40679-019-0065-1
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发表时间：
2019-03
影响因子：
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通讯作者：
Cheng Sun;E. Müller;M. Meffert;D. Gerthsen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Cheng Sun;E. Müller;M. Meffert;D. Gerthsen
