High-temperature scanning tunneling microscopy study of the ‘16×2’⇔(1×1) phase transition on an Si(110) surface
High-temperature scanning tunneling microscopy study of the ‘16×2’⇔(1×1) phase transition on an Si(110) surface
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Si(110)表面‘16×2’⇔(1×1)相变的高温扫描隧道显微镜研究
DOI：
10.1016/s0039-6028(00)00773-1
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
M. Iwatsuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Yamamoto;T. Sueyoshi;Tomoshige Sato;M. Iwatsuki
