Development of a Secondary Neutral Mass Spectrometer for Submicron Imaging Mass Spectrometry
Development of a Secondary Neutral Mass Spectrometer for Submicron Imaging Mass Spectrometry
复制标题
用于亚微米成像质谱分析的二次中性质谱仪的开发
DOI：
10.7566/jpscp.31.011065
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Michisato Toyoda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yosuke Kawai;Kentaro Terada;Toshinobu Hondo;Jun Aoki;Morio Ishihara;Michisato Toyoda
