Measurement of sticking probability and sputtering yield of Au by low-energy mass selected ion beams with a quartz crystal microbalance

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石英晶体微天平低能质量选择离子束测量 Au 的粘附概率和溅射产率

DOI:
--
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发表时间:
2008
期刊:
Journal of Physics: Conference Series 106
影响因子:
--
通讯作者:
S. Hamaguchi
S. Hamaguchi
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
K. Ikuse;S. Yoshimura;M. Kiuchi;K. Hine;S. Hamaguchi

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被引文献

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