半導体・絶縁体による粒子線照射損傷のモニタリング～光学特性変化を中心として～
半導体・絶縁体による粒子線照射損傷のモニタリング～光学特性変化を中心として～
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监测粒子束照射对半导体和绝缘体的损伤 - 关注光学特性的变化 -
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岩切宏友
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D.Hamaguchi;H.Iwakiri;et al.;岩切宏友
