Behavior of Nanomagnet Logic in the presence of thermal noise
Behavior of Nanomagnet Logic in the presence of thermal noise
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存在热噪声时纳米磁体逻辑的行为
DOI：
10.1109/iwce.2010.5677954
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W. Porod
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Csaba;W. Porod
我们使用数值模拟来分析纳米磁逻辑（NML）在室温热波动存在下的行为，并讨论简单的模型来估计这些设备中的温度引起的错误率。我们的计算表明，小的NML门-由100 nm以下的大小的点组成-是足够稳定的温度波动，但热噪声施加设计约束的结构与长的信号路径。
We use numerical simulations to analyze the behavior of Nanomagnet Logic (NML) in the presence of room-temperature thermal fluctuations and discuss simple models to estimate temperature-induced error rates in these devices. Our calculations show that small NML gates — composed of sub-100 nm size dots — are sufficiently stable against temperature fluctuations, but thermal noise imposes design constraints for structures with long signal paths.