Fabrication of thin-layered sensor samples for examination of property changes under ion beam irradiation
Fabrication of thin-layered sensor samples for examination of property changes under ion beam irradiation
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制造薄层传感器样品以检查离子束辐照下的性能变化
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Yoshino
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Tanaka;H. A. Sakaue;Y. Hishinuma;F. Sato;M. Yoshino
