T.Inoue, et al.: "Test generation for acyclie sequential circuits with hold registers"Proc.Int'l Conf.on Computer Aided Design. 550-556 (2000)
T.Inoue, et al.: "Test generation for acyclie sequential circuits with hold registers"Proc.Int'l Conf.on Computer Aided Design. 550-556 (2000)
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T.Inoue 等人：“带有保持寄存器的非循环时序电路的测试生成”Proc.Intl Conf.on 计算机辅助设计。
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