An Efficient Method to Localize Correct Bugs in High-Level Designs Using Counterexamples and Potential Dependence
An Efficient Method to Localize Correct Bugs in High-Level Designs Using Counterexamples and Potential Dependence
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使用反例和潜在依赖性在高层设计中定位正确错误的有效方法
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Fujita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Matsumoto;S. Ono;M. Fujita
