Application of maximum likelihood estimator in nano-scale optical path length measurement using spectral-domain optical coherence phase microscopy.
Application of maximum likelihood estimator in nano-scale optical path length measurement using spectral-domain optical coherence phase microscopy.
复制标题
最大似然估计器在使用谱域光学相干相位显微镜测量纳米级光路长度中的应用。
DOI：
10.1364/oe.16.17186
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
deBoer,JF
中科院分区：
文献类型：
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作者：
MotaghianNezam,SMR;Joo,C;Tearney,GJ;deBoer,JF
