TO Phonon Excitation Using Surface Enhanced Raman Scattering for Stress Evaluation
TO Phonon Excitation Using Surface Enhanced Raman Scattering for Stress Evaluation
复制标题
使用表面增强拉曼散射进行 TO 声子激发进行应力评估
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Ogura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Hashiguchi;M. Takei;D. Kosemura;A.Ogura
