Direct atomistic defect observations by depth sectioning and dynamic STEM
Direct atomistic defect observations by depth sectioning and dynamic STEM
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通过深度切片和动态 STEM 进行直接原子缺陷观察
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Ikuhara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Ishikawa;N. Shibata;Y. Ikuhara
