High resolution reflection microscopy via absorbance modulation
High resolution reflection microscopy via absorbance modulation
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通过吸光度调制的高分辨率反射显微镜
DOI：
10.22443/rms.mmc2021.66
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Alexander Egner
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Parul Jain;Viktor Udachin;Sven Nagorny;Claudia Geisler;Jörg Adams;Andreas Schmidt;Christian Rembe;Alexander Egner
