CIC 導体内の素線軌跡を考慮したラップジョイント部における接触抵抗分布解析
CIC 導体内の素線軌跡を考慮したラップジョイント部における接触抵抗分布解析
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考虑CIC导体中导线轨迹的搭接接头接触电阻分布分析
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
尾花哲浩
中科院分区：
文献类型：
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作者：
森村俊也;荒井大地;宮城大輔;津田理;濱島高太郎;谷貝剛;小泉徳潔;布谷嘉彦,高畑一也;尾花哲浩
