OS1(2)-6(OS01W0200) Sub-Micron Displacement Measurement Using a Digital Image Correlation Method
OS1(2)-6(OS01W0200) Sub-Micron Displacement Measurement Using a Digital Image Correlation Method
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OS1(2)-6(OS01W0200) 使用数字图像相关方法进行亚微米位移测量
DOI：
10.1299/jsmeatem.2003.2._os01w0200
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Uchino
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Uchino
