Optical properties of antireflective subwavelength structures on 4H-SiC for UV photodetectors
Optical properties of antireflective subwavelength structures on 4H-SiC for UV photodetectors
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用于紫外光电探测器的 4H-SiC 抗反射亚波长结构的光学特性
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Hirabayashi;et al
