Angular dependence of fast-electron scattering from materials
Angular dependence of fast-electron scattering from materials
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材料快速电子散射的角度依赖性
DOI：
10.1103/physrevb.101.184109
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发表时间：
2020
影响因子：
3.7
通讯作者：
Barthel J
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Barthel J
角分辨扫描电子显微镜是研究材料性能的重要工具。然而，最近的几项研究已经观察到角散射分布在实验和理论之间存在明显的差异。在这篇文章中，我们讨论了一种低损耗非弹性散射的一般方法，当结合到模拟中时，它解决了这个问题，并紧密地重现了在更大角度范围内的实验数据。我们还探讨了离子键、温度因素、样品表面的非晶层以及原子的静态位移对角散射分布的影响。在模拟中引入低损耗非弹性散射将提高诸如小角度环形暗场成像和位置平均会聚束电子衍射等技术的定量有用性，特别是对于较厚的样品。
Angular resolved scanning transmission electron microscopy is an important tool for investigating the properties of materials. However, several recent studies have observed appreciable discrepancies in the angular scattering distribution between experiment and theory. In this paper we discuss a general approach to low-loss inelastic scattering which, when incorporated in the simulations, resolves this problem and also closely reproduces experimental data taken over an extended angular range. We also explore the role of ionic bonding, temperature factors, amorphous layers on the surfaces of the specimen, and static displacements of atoms on the angular scattering distribution. The incorporation of low-loss inelastic scattering in simulations will improve the quantitative usefulness of techniques such as low-angle annular dark-field imaging and position-averaged convergent beam electron diffraction, especially for thicker specimens.
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