Production testing and quality assurance of CMS silicon microstrip tracker readout chips

Production testing and quality assurance of CMS silicon microstrip tracker readout chips
复制标题

CMS硅微带跟踪读出芯片的生产测试和质量保证

DOI:
--
复制
发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
M. French
M. French
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
R. Bainbridge;P. Barrillon;G. Hall;J. Leaver;E. Noah;M. Raymond;D. Bisello;A. Candelori;A. Kaminsky;V. Khomenkov;L. Stefanutti;M. Tessaro;M. French

文献摘要

被引文献

相似文献