Murata, Matsukawa, Matsumoto, Sugimoto, Goto, Kiuchi, Ohtori: "Nondestructive evaluation of SiC layer by Brillouin scattering method"Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 3374-3375 (2002)
Murata, Matsukawa, Matsumoto, Sugimoto, Goto, Kiuchi, Ohtori: "Nondestructive evaluation of SiC layer by Brillouin scattering method"Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 3374-3375 (2002)
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Murata、Matsukawa、Matsumoto、Sugimoto、Goto、Kiuchi、Ohtori：“通过布里渊散射法对 SiC 层进行无损评估”Jpn.J.Appl.Phys.. 41. 3374-3375 (2002)
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