Study of proton irradiation effects on AlGaN/GaN high electron mobility transistors

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DOI:
10.1016/j.microrel.2011.04.022
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发表时间:
2011-12
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
L. Lv;J. Ma;Yanrong Cao;Jinli Zhang;W. Zhang;Longqiao Li;S. R. Xu;Xiao-hua Ma;X. Ren
L. Lv;J. Ma;Yanrong Cao;Jinli Zhang;W. Zhang;Longqiao Li;S. R. Xu;Xiao-hua Ma;X. Ren
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
L. Lv;J. Ma;Yanrong Cao;Jinli Zhang;W. Zhang;Longqiao Li;S. R. Xu;Xiao-hua Ma;X. Ren

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