SOI CMOSデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズSETの解析モデル
SOI CMOSデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズSETの解析モデル
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SOI CMOS 器件中产生的辐射引起的脉冲噪声 SET 的分析模型
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林大輔;他
