S.Kawado: "Influence of crystal imperfection high-resolution diffraction Profiles of silicon single crystals measured by highly collimated X-ray beams" Appl.Phys.Lett. 58. 2246-2248 (1991)
S.Kawado: "Influence of crystal imperfection high-resolution diffraction Profiles of silicon single crystals measured by highly collimated X-ray beams" Appl.Phys.Lett. 58. 2246-2248 (1991)
复制标题
S.Kawado：“通过高度准直 X 射线束测量的硅单晶高分辨率衍射剖面的晶体缺陷影响”Appl.Phys.Lett。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
