Phase-shifting ellipsometer based on pixelated polarization camera to measure nano-thick liquid film and nanoparticle deposits
Phase-shifting ellipsometer based on pixelated polarization camera to measure nano-thick liquid film and nanoparticle deposits
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基于像素化偏振相机的相移椭圆仪测量纳米厚液膜和纳米颗粒沉积物
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tetsushi Biwa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Eita Shoji;Taiga Saito;Akira Hoshino;Tetsushi Biwa
