Electrical Resistance and Structural Changes on Crystallization Process of Amorphous Ge-Te Thin Films

Electrical Resistance and Structural Changes on Crystallization Process of Amorphous Ge-Te Thin Films
复制标题

非晶Ge-Te薄膜晶化过程中的电阻和结构变化

DOI：
--
复制
发表时间：
2009
期刊：
Materials and Physics for Nonvolatile Memories MRS Proceedings 1160
影响因子：
--
通讯作者：
J.Koike
J.Koike
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
Y.Saito;Y.Sutou;J.Koike

文献摘要

相似文献