標準評価基板上のASICへの差分電力解析実験
標準評価基板上のASICへの差分電力解析実験
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标准评估板上ASIC的差分功耗分析实验
DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
佐藤証
中科院分区:
文献类型:
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作者:
菅原健;本間尚文;青木孝文;佐藤証