Analysis of conductivity to detect antisite defects in low-temperature-grown GaAs1-xBix
Analysis of conductivity to detect antisite defects in low-temperature-grown GaAs1-xBix
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电导率分析以检测低温生长的 GaAs1-xBix 中的反位缺陷
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
富永依里子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
原田南斗;梅西達哉;高垣佑斗;富永依里子
