Yasushi NIITSU: "Accuracy Evaluation of Stress Measurement in Silicon Crystal by Microscopic Raman Spectroscopy" Proc.of Int.Electronics Packaging Conference. 1. 255-259 (1993)
Yasushi NIITSU: "Accuracy Evaluation of Stress Measurement in Silicon Crystal by Microscopic Raman Spectroscopy" Proc.of Int.Electronics Packaging Conference. 1. 255-259 (1993)
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Yasushi NIITSU：“通过显微拉曼光谱对硅晶体中的应力测量进行准确度评估”国际电子封装会议论文集。
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