Status of D-Egg readout electronics
Status of D-Egg readout electronics
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D-Egg 读出电子设备的状态
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ryo Nagai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toubai T;Rossi C;Oravecz-Wilson K;Zajac C;Chen L;Fujiwara H;Wu J;Tamaki H;Magneau J;Reddy P.;Ryo Nagai
