Characterization of Electronic Charged States of Si-Based Quantum Dots and Their Application to Floating Gate Memories
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复制标题
硅基量子点电子带电状态的表征及其在浮栅存储器中的应用
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Makihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Miyazaki;M.Ikeda;K.Makihara
