半導体ひずみゲージ搭載型マイクロマニピュレータを用いた細胞変形性能計測
半導体ひずみゲージ搭載型マイクロマニピュレータを用いた細胞変形性能計測
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使用配备半导体应变计的微操作器测量电池变形性能
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
洞出光洋，田畑修
中科院分区：
文献类型：
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作者：
洞出光洋;西村空;佐藤健太;山脇輔;八島真人;洞出光洋;洞出光洋;Mitsuhiro Horade;洞出光洋;洞出光洋;洞出光洋，田畑修
