Half-Nanosecond Latency Measurement on a 64-kbit Josephson-CMOS Memory
Half-Nanosecond Latency Measurement on a 64-kbit Josephson-CMOS Memory
复制标题
64 kbit Josephson-CMOS 存储器上的半纳秒延迟测量
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Cherednichenko;V. Drakinskiy;K. Ueda;M. Naito;K. Fujiwara
