Measurement of quality factor and dielectric loss in superconducting microwave resonator integrated with epitaxial NbN/AlN/NbN qubit circuit
Measurement of quality factor and dielectric loss in superconducting microwave resonator integrated with epitaxial NbN/AlN/NbN qubit circuit
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集成外延 NbN/AlN/NbN 量子位电路的超导微波谐振器品质因数和介电损耗的测量
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Z Wang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W Qiu;K Makise;H Terai;Y Nakamura;Z Wang
