Interface states in SiSiO2 interfaces
Interface states in SiSiO2 interfaces
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SiSiO2 界面中的界面态
DOI：
10.1016/0038-1101(72)90157-8
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发表时间：
1972
影响因子：
1.7
通讯作者：
A. Goetzberger
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Deuling;E. Klausmann;A. Goetzberger
